• # EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비
  • 종합반도체(IDM) / 디스플레이 / Junction 극소결함 / 부품 / PCB 결함 분석 / 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정
  • Hot spot(핫스폿) / 쇼트(Short) & 누설전류(Leakage Current) 
  • # 비접촉 박막 두께 측정기
  • 반도체 장치, 안경, 스텐트, 태양 전지, 폴리머 코팅, 포토레지스트, 태양 전지 패널, LCD, MEMS 및 주사기 제조업체
  • 1nm 에서 2mm 까지 두께 측정
  • 학교 / 연구실 / 인라인 / 곡면 / 대형 부품 / 게이트형 박막 / 소형 난시 보정 분광계 측정 등  

EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비_종합반도체(IDM)/디스플레이/Junction 극소결함/부품/PCB 결함 분석/쇼트 및 누설전류 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정

HL50WIN GUI에서 실행 중인 시료 온도 스캔
HL50WIN GUI에서 실행 중인 시료 온도 스캔

🔷 Toho HL9900 Hall Effect Measurement System

최첨단 홀 효과 측정 시스템으로,
반도체 재료의 비저항(ρ), 캐리어 농도(N), 이동도(μ)를 정밀하게 측정할 수 있는
올인원 고성능 장비입니다.


📌 주요 특징

✅ 실리콘, 화합물 반도체, 금속 산화물 박막 등 다양한 재료 지원
✅ 모듈형 설계로 업그레이드 및 확장 용이
✅ 낮은 저항부터 높은 저항까지 측정 가능 (0.1 mΩ/sq ~ 1 MΩ/sq 이상)
✅ 저온(90K)부터 고온(500K)까지 측정 가능 (옵션 Cryostat)
✅ AC/DC 측정 모드로 열 효과 및 잡음 최소화


📊 제품 사양 요약

구분 내용

측정 항목비저항, 캐리어 농도, 이동도, 홀 계수
전류 범위100 nA ~ 19.9 mA (기본), 1 pA ~ 10 μA (Buffer Amp 옵션)
온도 범위90K ~ 500K (Cryostat 옵션 사용 시)
자기장0.5 T (±5%) / 안정성 0.1% (10년) / 균일성 ±1% (25mm)
최대 샘플 크기15mm × 15mm
측정 모드AC (213 Hz), DC
입력 임피던스10¹⁰ Ω (기본), 10¹³ Ω (Buffer Amp 옵션)
입력 누설 전류20 nA (기본), 40 fA (Buffer Amp 옵션)
소프트웨어Windows 기반, I-V 커브 확인, 자동 로깅, 데이터 내보내기
샘플 형상 지원Van der Pauw, Hall Bar, Bridge
냉각 시간약 5분 (Cryostat 사용 시)
치수 (측정 헤드)535 × 700 × 295 mm
치수 (계측 유닛)280 × 400 × 150 mm
무게측정 헤드 47.8 kg, 계측 유닛 9.0 kg


🛠️ 옵션 액세서리

모델명 설명

HL9902예비 Teflon 샘플 듀어
HL99033인치 Teflon 샘플 듀어
HL9904교정 세트 (Calibration Set)
HL9920정밀 스테레오 현미경
HL9910추가 프로브 (두 개)
HL9950액체 질소 크라이오스탯 (90K ~ 500K)
HL9980고임피던스 버퍼 앰프 / 전류 소스


🌍 설치 및 고객사

현재 전 세계 500대 이상 가동 중
대표 고객사: Intel, Samsung, Micron, Infineon, Broadcom, Sandia National Labs 등