• # EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비
  • 종합반도체(IDM) / 디스플레이 / Junction 극소결함 / 부품 / PCB 결함 분석 / 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정
  • Hot spot(핫스폿) / 쇼트(Short) & 누설전류(Leakage Current) 
  • # 비접촉 박막 두께 측정기
  • 반도체 장치, 안경, 스텐트, 태양 전지, 폴리머 코팅, 포토레지스트, 태양 전지 패널, LCD, MEMS 및 주사기 제조업체
  • 1nm 에서 2mm 까지 두께 측정
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EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비_종합반도체(IDM)/디스플레이/Junction 극소결함/부품/PCB 결함 분석/쇼트 및 누설전류 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정

1879년, Edwin Hall (Johns Hopkins University)
1879년, Edwin Hall (Johns Hopkins University)

🧑‍🔬 역사와 발견

  • 1879년, Edwin Hall (Johns Hopkins University)
    → 전류가 흐르는 도체 또는 반도체에 수직으로 자기장을 가하면 전위차(전압)가 발생하는 현상을 실험적으로 발견함.

  • 이 발견은
    ▸ 자기장(magnetic fields)과
    ▸ 흐르는 전류(flowing electric currents)
    간의 상호작용을 정의하는 중요한 전기물리학 기반이 됨.


⚙️ Hall Effect란?

  • 전류가 흐르는 전도체 또는 반도체가
    수직 방향의 자기장에 노출될 때,
    전류 방향과 수직으로 측정 가능한 전압이 발생함.

  • 이 측정된 전압은 재료의 전기적 특성(예: 캐리어 농도, 이동도)을 파악하는 데 사용됨.

  • ➔ 이를 Hall Effect(홀 효과)라고 부름.


🌡️ Hall Effect에 영향을 주는 요인

✅ 온도 (Temperature)

  • 높은 온도 → 격자 진동 증가 → 이동도 감소

  • 낮은 온도 → 격자 내 불순물/도펀트로 인한 산란 증가 → 이동도 감소

✅ 빛 (Light)

  • 시료에 입사되는 빛 → 온도 증가 효과와 유사, 캐리어 활성화

  • 광자(Photon) → 전자가 원자가 밴드에서 전도 밴드로 뛰어오르게 함 → 자유 전자 증가 → 이동도 감소


📈 응용

Hall Effect 측정은
반도체 재료, 전자소자, R&D 연구에서
전도성, 캐리어 농도, 이동도, 재료 품질 평가에
중요한 분석 도구로 활용됩니다.