• # EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비
  • 종합반도체(IDM) / 디스플레이 / Junction 극소결함 / 부품 / PCB 결함 분석 / 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정
  • Hot spot(핫스폿) / 쇼트(Short) & 누설전류(Leakage Current) 
  • # 비접촉 박막 두께 측정기
  • 반도체 장치, 안경, 스텐트, 태양 전지, 폴리머 코팅, 포토레지스트, 태양 전지 패널, LCD, MEMS 및 주사기 제조업체
  • 1nm 에서 2mm 까지 두께 측정
  • 학교 / 연구실 / 인라인 / 곡면 / 대형 부품 / 게이트형 박막 / 소형 난시 보정 분광계 측정 등  

EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비_종합반도체(IDM)/디스플레이/Junction 극소결함/부품/PCB 결함 분석/쇼트 및 누설전류 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정

제품 소개
RA-9100은 정밀한 레이저 디캡슐레이션을 통해 금속 배선(Al, Cu, Au)을 손상시키지 않으면서 몰드 컴파운드 층을 개별적으로 제거할 수 있는 최첨단 장비입니다. 오퍼레이터가 GUI(그래픽 사용자 인터페이스)를 통해 100% 제어할 수 있으며, 후속 화학 처리를 최소화할 수 있습니다.


🔑 주요 특징

  • 개별 몰드 컴파운드 층 제거 (리드프레임부터 기판까지)

  • Full / Localized / Bevel Decapsulation 모두 가능

  • 후속 화학 처리(산처리) 필요 최소화

  • 복잡한 형상의 캐비티 제작 가능

  • Al, Cu, Au 본드 와이어 손상 없이 구성요소 노출

  • 낮은 온도, 낮은 부식 조건에서의 전처리 지원

  • CCD 카메라(22M 픽셀, 실시간 모니터링) 탑재


기술 사양

  • 레이저 타입: Fiber Laser

  • 파장: 1064 nm

  • 최대 에너지: 1 mJ/pulse

  • 최대 출력: 20 W

  • 출력 범위: 1–100%

  • 주파수 범위: 1.6 kHz ~ 4 MHz

  • 포커스 모드: Laser AF (오토포커스)

  • 카메라: 22M 픽셀 컬러 CCD, 실시간 모니터링 지원


🏭 응용 분야

  • 플라스틱, 세라믹, MEMS 패키지 프리-오프닝

  • 파워 디바이스 프리-캐비테이션

  • 산처리 없이 회로 노출

  • PCB 또는 세라믹 기판의 Wlip 칩/와이어 다이용 Glob Top 제거

  • 크로스섹션(단면) 준비

  • 본딩 절단

  • 얇은 PCB 절단