• # EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비
  • 종합반도체(IDM) / 디스플레이 / Junction 극소결함 / 부품 / PCB 결함 분석 / 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정
  • Hot spot(핫스폿) / 쇼트(Short) & 누설전류(Leakage Current) 
  • # 비접촉 박막 두께 측정기
  • 반도체 장치, 안경, 스텐트, 태양 전지, 폴리머 코팅, 포토레지스트, 태양 전지 패널, LCD, MEMS 및 주사기 제조업체
  • 1nm 에서 2mm 까지 두께 측정
  • 학교 / 연구실 / 인라인 / 곡면 / 대형 부품 / 게이트형 박막 / 소형 난시 보정 분광계 측정 등  

EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비_종합반도체(IDM)/디스플레이/Junction 극소결함/부품/PCB 결함 분석/쇼트 및 누설전류 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정

🌟 OmegaPrep II & UltraPrep IV

정밀 메카니컬 샘플 준비 및 다이 씬닝 시스템


🔑 제품 개요

OmegaPrep II 및 UltraPrep IV는 RKD Systems의 자동화된 메카니컬 샘플 준비 장비로, 다이 씬닝(thinning), 폴리싱(polishing), 디캡슐레이션(decapsulation)을 포함한 모든 기계적 샘플 처리 작업을 지원합니다.
간단한 ‘스타트 후 자동 처리’ 기능과 정밀 프로그래밍으로 최소한의 오퍼레이터 개입만으로 최고의 품질과 일관성을 제공합니다.


⚙ 주요 기능

  • 자동화된 다이 씬닝 및 폴리싱 프로세스

  • ±1 마이크론 정밀 깊이 제어

  • 비접촉 비디오 얼라인먼트 및 4점 다이 얼라인먼트

  • 모든 과정 및 측정 데이터 자동 저장 및 리포트

  • 열 분포에 따른 스트레스 보정 프로파일 기반 처리

  • 파손 없는 초고정밀 다이 씬닝 (두께 편차 < ±2 μm)

  • 다양한 샘플: 히트싱크 제거, 다이 어태치 제거, 기판 제거, C4 볼 노출, BGA 제거

  • 초소형 및 대형 샘플 모두 처리 가능 (최대 패키지 크기: 225 × 155 mm)


🏭 응용 분야

  • 반도체 패키지 후면 다이 씬닝

  • 스택 다이 제거 및 디캡슐레이션

  • 고품질 표면 폴리싱 및 플래너리제이션

  • PCB 조립체에서 BGA/IC 제거

  • 복잡한 샘플 고정용 맞춤 지그 제작


📐 주요 사양 비교

항목 OmegaPrep II UltraPrep IV

장비 크기425 × 375 × 450 mm375 × 375 × 350 mm
무게30 kg (배송 시 35 kg)25 kg (배송 시 30 kg)
전원90–250 VAC, 49–61 Hz, 최대 4 A동일
사용 가능 다이 크기0.5–40 mm동일
최대 패키지 크기225 × 155 mm (특수 지그 사용 시)67 × 52.5 mm (표준 지그 사용 시)
X/Y/Z 축 이동X 110 mm / Y 128 mm / Z 80 mmX 59 mm / Y 62 mm / Z 55 mm
스핀들 속도2000–10,000 RPM동일 (옵션: 최대 15,000 RPM)
프로그램 인터페이스145 mm 터치스크린, 10.1" 비디오 모니터동일
표면 측정 정확도0.0015 mm (3 시그마, 25회 반복 측정)동일


🛠 옵션 및 액세서리

  • MountPlate II (60–140°C 왁스 마운팅용 핫플레이트)

  • Model 2400 Continuous Flow System (연속 유체 공급/회수)

  • 고속 스핀들 (최대 15,000 RPM)

  • 로컬 영역 씬닝 전용 소프트웨어

  • 두께 측정 모듈 (고범위 및 저범위 선택 가능)

  • 다양한 소비성 툴, 연마 필름, 슬러리, 맞춤 지그


🚀 제품 강점

✅ 샘플 파손 없는 정밀 처리
✅ 공정 개발 및 맞춤 소프트웨어 지원
✅ 고객 전용 커스텀 지그 및 문제 해결 서비스
✅ 반도체 실패 분석 및 특수 응용 분야 전용