1. MProbe UVVisF는 박막의 두께와 굴절률을 측정합니다. 
2. 주변광이 높은 환경(R&D 및 생산 애플리케이션의 현장, 인라인)에서 작동할 수 있습니다. 
3. 이 시스템은 MProbe UVVisSr 시스템과 유사하지만 UV 파장에 더 짧은 파장 범위를 가중시킵니다. 
4. 이 시스템은 빠른 측정과 긴 램프 수명이 필요한 응용 분야용으로 설계되었습니다. 
5. 이 시스템은 Xe 램프 플래시(~2 µs )의 게이트 획득을 사용하기 때문에 주위 조명이 높은 환경(예: 스퍼터링)에서 작동할 수 있습니다 .  

WHY MPROBE UVVisF?

• 낮은 반사율 및 높은 반사율 샘플에 대한 빠른 측정. 일정하고 예측 가능한 측정 빈도. 일반적으로 10Hz – 20Hz 
• 다른 데스크탑 MProbe 시스템과 동일한 탁월한 정밀도(<0.01nm) 
• 게이트 획득으로 인해 주변광이 높은 환경에서도 사용 가능 
• 재료: 500개 이상의 확장된 재료 데이터베이스
• 소프트웨어: 사용자 친화적이고 기능이 풍부한 TFCompanion 소프트웨어는 가장 복잡한 애플리케이션도 처리할 수 있습니다. 레이어 수에 제한이 없으며 뒷면 반사율, 표면 거칠기, 흐릿함 등을 지원합니다. 
• 합리적인 가격: 비교할 수 없는 가격/성능

BASIC SPECIFICATION*

• 20W Xe Flash lamp (1.5mm arc, >20000 hrs lifetime at 10Hz)
• Precision: <0.01nm or 0.01%
• Accuracy: <1nm or 0.2% (filmstack dependent)
• Stability:< 0.02nm or 0.2%
• Spot size: <1mm
• Sample size: up to 200 mm

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