Optotherm 시스템은 반도체 결함을 정밀하게 식별하기 위해
비파괴 방식의 열화상 및 포톤 이미징 기술을 제공합니다.

전 세계 FA 랩에서 활용되는 이 솔루션들은
높은 감도와 실시간 시각화를 기반으로
고도화된 Failure Analysis 환경을 지원합니다.

Enabling Reliable Performance for Advanced Semiconductors

SEKOA는 차세대 반도체의 성능과 신뢰성을 결정짓는 핵심 분석·계측 솔루션을 제공합니다.

Optotherm의 열화상 및 포톤 이미징 시스템은
첨단 반도체 디바이스의 Failure Analysis와 신뢰성 검증에 핵심적인 역할을 합니다.

더 작아지는 칩, 더 높아지는 분석 요구

현대의 반도체 칩은 수십억 개의 트랜지스터로 구성되며
세대가 거듭될수록 더욱 미세하고 복잡한 구조로 진화하고 있습니다.

이러한 스케일 축소는 FA와 신뢰성 평가를 위한
더 정밀하고 고감도의 분석 도구를 요구합니다.

Optotherm의 열화상·포톤 이미징 시스템은
결함을 빠르고 정확하게 식별할 수 있는 고해상도 분석 능력을 제공하여
개발 기간을 단축하고 수율 향상을 지원합니다.

EMMI Sentris Electronics Failure Analysis System

Optotherm systems

Optotherm은 반도체 Failure Analysis를 위한 열화상·포톤 이미징 분야의 글로벌 선도 기업입니다.
SEKOA는 이들의 대표 시스템 3종을 한국 및 글로벌 고객에게 제공합니다.

The road to advanced
fault analysis

첨단 반도체 불량 분석의 기준을 새롭게 정의합니다.

20여 년간 Optotherm은 고해상도 반도체 Failure Analysis를 지원하기 위해
첨단 열화상 및 포톤 이미징 기술을 지속적으로 발전시켜 왔습니다.

이들 시스템은 칩·패키지·PCB에서 발생하는 미세한 열 및 포톤 방출을 정밀하게 감지하여
육안으로 식별하기 어려운 미세 결함까지 정확하게 진단할 수 있도록 설계되었습니다.

SEKOA는 Optotherm의 핵심 솔루션을 한국과 글로벌 고객에게 공급하며,
현지 기반의 기술 지원을 통해 안정적인 분석 환경을 제공합니다.