• # EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비
  • 종합반도체(IDM) / 디스플레이 / Junction 극소결함 / 부품 / PCB 결함 분석 / 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정
  • Hot spot(핫스폿) / 쇼트(Short) & 누설전류(Leakage Current) 
  • # 비접촉 박막 두께 측정기
  • 반도체 장치, 안경, 스텐트, 태양 전지, 폴리머 코팅, 포토레지스트, 태양 전지 패널, LCD, MEMS 및 주사기 제조업체
  • 1nm 에서 2mm 까지 두께 측정
  • 학교 / 연구실 / 인라인 / 곡면 / 대형 부품 / 게이트형 박막 / 소형 난시 보정 분광계 측정 등  

EMMI 적외선 열영상 결함 분석 장비_종합반도체(IDM)/디스플레이/Junction 극소결함/부품/PCB 결함 분석/쇼트 및 누설전류 미세 결함 불량 위치 및 깊이 측정

METAL APPLICATIONS : MEASURING POLYESTER COATING ON METAL SHEETS    

금속 응용 분야 : 금속판의 폴리에스테르 코팅 측정



Contact us with information about your application for a MProbe quote

  1. 얇은 폴리에스테르 코팅은 첨단 기술 제조에 사용되는 강판을 부식으로부터 보호하기 위해 사용됩니다. 코팅 두께와 균일성 테스트는 코팅의 특정 성능을 보장하기 위해 중요합니다. 이 테스트는 일반적으로 제조 공정 조정을 위해 오프라인으로 수행됩니다.
  2. MProbeVis-MSP는 폴리에스테르 필름의 두께를 빠르고 정확하며 비파괴적인 방법을 제공합니다.
  3. 폴리에스테르 필름 두께는 광학적 비파괴 방법으로는 측정이 어렵기로 악명 높으며, 그 주된 이유는 코팅의 질감과 미세한 불균일성입니다.
  4. 투명하지 않은 고산란 코팅의 경우 작은 스폿과 함께 NIR 범위(MProveNIR-MSP 파장 900-1700nm)를 사용해야 합니다. MProbe MSP 시스템을 사용하면 작은 스폿에서 측정값을 파악 할 수 있습니다. 측정 데이터의 사전 데이터 분석을 통해 텍스쳐로 인한 측정 아티팩트의 영향을 줄이고 두께 데이터를 추출할 수 있습니다.
강철 위 투명 폴리에스테르의 반사 스펙트럼(가시 범위)
강철 위 투명 폴리에스테르의 반사 스펙트럼(가시 범위)
강철 위 흰색 폴리에스테르의 반사 스펙트럼(NIR 범위)
강철 위 흰색 폴리에스테르의 반사 스펙트럼(NIR 범위)

Why use MProbe MSP system  ? 

  • 폴리에스테르 코팅의 불균일성/질감으로 인해 측정을 국지화하려면 작은 지점(~40~20μm)이 필요합니다. 고산란 코팅의 경우 – NIR 파장 범위를 사용해야 합니다.
  • 일반적인 코팅 두께 ~5-10μm는 MProbeVis 또는 MProbeNIR MSP 시스템 두께 범위와 완벽하게 일치합니다.
  • 측정 부위의 이미지와 정확한 측정 위치를 나타내는 레티클을 통해 원하는 위치로 쉽게 이동할 수 있습니다.
  • 결과는 이미지에 직접 표시될 수 있습니다.
  • 400nm -1000nm 파장 범위가 이러한 측정에 가장 적합합니다.

BASIC SPECIFICATION

  • Wavelength range: Vis (400-1000nm), NIR (900-1700 nm)
  • Wavelength resolution:<2 nm 
  • Precision: <0.01nm or 0.01%
  • Accuracy: <1nm or 0.2% 
  • Measurement:< 100ms (typical, depends on sample reflectivity)
  • Spot size: 2μm to 200 μm (depending on objective)
  • Integrated 2MB camera to display measurement area
  • Custom holders and automation is available

     

Copyright © SEKOA